AIXTRON SE

Als studentische Hilfskraft in unserem Metrology Lab führst du modernste Charakterisierungmethoden für die in unseren Anlagen beschichteten Substrate (Wafer) durch, z. B. Röntgendiffraktometrie (XRD), Photolumineszenz (PL) oder elektrische Charakterisierungen. Du koordinierst und startest Rezept-gesteuerte Messprogramme, be- und entlädst Wafer und dokumentierst bzw. speicherst die Resultate. Dabei wirst du von erfahrenen Metrology-Ingenieuren unterstützt und arbeitest eng mit den Prozessingenieuren der verschiedenen MOCVD-Anlagen in unserem Applikationslabor zusammen. Dabei erhältst du Einsicht in modernste Entwicklungen für die Zukunftstechnologien von morgen. Durchführung von messtechnischen Aufgaben und Dokumentation von Messergebnissen im Charakterisierungslabor Eigenständige Entwicklung von Analysescripts zur Datenverarbeitung von Charakterisierungsdaten (z.B. Python) Unterstützung des Charakterisierungslabor bei der Erstellung von Reports im Rahmen von internen Projekten Unterstützung des Charakterisierungslabor bei der Instandhaltung und Optimierung der Charakterisierungs-Tools Pflege der Messmittelverwaltung und Stammdatenpflege